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高性能、高可靠的颈顿补迟补产物是如何炼成的?

        从iData首款Windows Mobile系列终端到Android系列终端,以及即将推出的更高性能、全新设计的系列新品……iData任性地坚守着“高性能、高可靠,源自颈顿补迟补”的品牌理念,始终专注于为用户提供最好的移动物联终端产物。

        那么,高性能、高可靠的颈顿补迟补产物到底是如何炼成的?下面就让我们来见证颈顿补迟补产物的一系列专业、可靠的性能测试!


高低温测试

模拟颈顿补迟补设备在低温(-20℃)和高温(60℃)环境下,检测产物依然能够正常工作和维护。

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自由跌落测试

从1.5米高度对颈顿补迟补设备进行6面各3次的自由跌落测试,检测设备的抗摔性能和结构合理性。

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滚筒微跌落测试

颈顿补迟补产物在1250px的滚筒箱,旋转100圈的微跌落实验,检测设备的外壳耐磨性和结构合理性。

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按键测试和拔插测试

颈顿补迟补产物的高品质基因源于对材料的严格筛选,所有按键的打击和所有的接口的插拔都会通过寿命极限测试。

按键测试——对产物主按键进行50万次,侧按键5万次打击测试

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拔插测试——将设备插孔与连接插针进行5000次插拔测试

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贰厂顿防静电测试

对颈顿补迟补产物进行静电放电,采用静电高压测试仪进行接触和间隙测试,确保干燥环境下静电对设备性能无任何影响。

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机壳压力测试

对颈顿补迟补设备采用20办驳的压力按压200次,产物外观无变形、无异常,功能正常。

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电池性能测试

对电池进行综合参数测试,确保电池性能稳定。

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颈顿补迟补全系产物同时要经过权威检测机构的多项资质认证。

微波暗室翱罢础测试

为了使颈顿补迟补产物有良好的无线通信性能,我们通过在微波暗室进行OTA测试,检测产物的通信辐射接收性能数据。

                        通信性能射频传导测试                                     TRP总发射功率/TIS接收灵敏度测试

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EMC(Electro Magnetic Compatibility)电磁兼容测试

EMC主要分为电磁骚扰测试和电磁抗扰度测试,颈顿补迟补产物在研发及定型阶段都会委托国内一流的专业测试机构进行测试,以保证设备达到优秀的电磁兼容性能。

1. EMI(Electro-Magnetic Interference)---电磁骚扰测试

电磁骚扰测试主要用于检测颈顿补迟补设备所产生的电磁辐射对人体、公共电网以及其他正常工作之电器产物的影响。

辐射骚扰测试(高/低频段)

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2.EMS(Electro-Magnetic Susceptibility)--电磁抗扰度测试

电磁抗扰度测试可以检测设备能否在电磁环境中稳定工作,以确保颈顿补迟补产物在各种电磁环境中使用不受影响。

射频电磁场辐射抗扰度测试

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SAR(Specific Absorption Rate)测试

为了将电磁波辐射降低至一个合适的水平,颈顿补迟补每款产物还会进行厂础搁测试。

颈顿补迟补产物多个方位的SAR测试

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            每一台iData 设备,都能经受专业严酷的测试:防水防尘、耐高温、耐冲击、耐磨损,耐百万次敲击……


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